Degraeve, R.: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Dear readers, there is a temporary problem with downloading books on the site. Our specialists are trying to do everything possible to restore this function. We apologize for the inconvenience.

Книги
Статті (500+)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

Effectively Selecting Suppliers Using Total Cost of Ownership

Zeger Degraeve, Filip Roodhooft

Журнал:

Journal of Supply Chain Management

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 300 KB

english, 1999

[IEEE 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC) - Singapore (2018.5.14-2018.5.18)] 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC) - Risk management of electromagnetic disturbances

Armstrong, Keith, Pissoort, Davy, Degraeve, Andy, Lannoo, Jonas

Рік:

2018

Файл:

PDF, 433 KB

2018

[IEEE 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC) - Suntec City, Singapore (2018.5.14-2018.5.18)] 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC) - Reducing functional safety and other risks due to EM disturbances: IEEE Standard 1848

Armstrong, Keith, Pissoort, Davy, Degraeve, Andy, Lannoo, Jonas

Рік:

2018

Файл:

PDF, 669 KB

2018

Electrochemical hydrogen charging of duplex stainless steel

Claeys, Lisa, Depover, Tom, DeGraeve, Iris, Verbeken, Kim

Журнал:

CORROSION

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 844 KB

english, 2018

Nisin as a Food Preservative: Part 1: Physicochemical Properties, Antimicrobial Activity, and Main Uses

Gharsallaoui, Adem, Oulahal, Nadia, Joly, Catherine, Degraeve, Pascal

Журнал:

Critical Reviews in Food Science and Nutrition

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 787 KB

english, 2015

A New Dantzig-Wolfe Reformulation and Branch-and-Price Algorithm for the Capacitated Lot-Sizing Problem with Setup Times

Degraeve, Zeger, Jans, Raf

Журнал:

Operations Research

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 208 KB

english, 2007

Local post-harvest practices associated with aflatoxin and fumonisin contamination of maize in three agro ecological zones of Tanzania

Kamala, Analice, Kimanya, Martin, Haesaert, Geert, Tiisekwa, Bendantuguka, Madege, Richard, Degraeve, Szanne, Cyprian, Cypriana, De Meulenaer, Bruno

Журнал:

Food Additives & Contaminants Part A

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.04 MB

english, 2016

[IEEE 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC) - Singapore (2018.5.14-2018.5.18)] 2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC) - Teaching EMC using an EMC demonstration unit

Degraeve, Andy, Peuteman, Joan, Pissoort, Davy, Leuven, KU, Bruges, Campus, Armstrong, Keith

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 428 KB

english, 2018

Degradation and breakdown in thin oxide layers: mechanisms, models and reliability prediction

R. Degraeve, B. Kaczer, G. Groeseneken

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 288 KB

english, 1999

An linear programming based lower bound for the simple assembly line balancing problem

Marc Peeters, Zeger Degraeve

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 384 KB

english, 2006

Constructing a Total Cost of Ownership supplier selection methodology based on Activity-Based Costing and mathematical programming

Degraeve, Z., Labro, Eva, Roodhooft, F.

Журнал:

Accounting and Business Research

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.91 MB

english, 2005

Determining Sourcing Strategies: A Decision Model Based on Activity and Cost Driver Information

Z. Degraeve and F. Roodhooft

Журнал:

Journal of the Operational Research Society

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 333 KB

english, 1998

Comportements dans l’espace routier : le rôle des attentes sociales

Varet, Florent, Degraeve, Béatrice, Granié, Marie-Axelle

Журнал:

Le Journal des psychologues

Рік:

2018

Мова:

french

Файл:

PDF, 1.08 MB

french, 2018

Le rôle des psychologues dans le contexte de la sécurité routière

Degraeve, Béatrice, Gabaude, Catherine, Laurent, Sébastien, Paire-Ficout, Laurence

Журнал:

Le Journal des psychologues

Рік:

2018

Мова:

french

Файл:

PDF, 978 KB

french, 2018

Project options valuation with net present value and decision tree analysis

Bert De Reyck, Zeger Degraeve, Roger Vandenborre

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 235 KB

english, 2008

High-resolution SILC measurements of thin SiO2 at ultra low voltages

S. Aresu, W. De Ceuninck, R. Dreesen, K. Croes, E. Andries, J. Manca, L. De Schepper, R. Degraeve, B. Kaczer, M. D’Olieslaeger, J. D’Haen

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2002

Файл:

PDF, 919 KB

2002

Improving the efficiency of the purchasing process using total cost of ownership information: The case of heating electrodes at Cockerill Sambre S.A.

Zeger Degraeve, Filip Roodhooft

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 136 KB

english, 1999

On the data interpretation of the C-AFM measurements in the characterization of thin insulating layers

J. Pétry, W. Vandervorst, L. Pantisano, R. Degraeve

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 190 KB

english, 2005

Progressive breakdown in ultrathin SiON dielectrics and its effect on transistor performance

Robert O’Connor, Greg Hughes, Robin Degraeve, Ben Kaczer

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 203 KB

english, 2005

Ultra-thin oxide reliability: searching for the thickness scaling limit

R Degraeve, B Kaczer, G Groeseneken

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 327 KB

english, 2000

Evaluations of intrinsic time dependent dielectric breakdown of dielectric copper diffusion barriers

Larry Zhao, Melina Lofrano, Kristof Croes, Els Van Besien, Zsolt Tőkei, Christopher J. Wilson, Robin Degraeve, Thomas Kauerauf, Gerald P. Beyer, Cor Claeys

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.14 MB

english, 2011

Channel Hot-Carrier Degradation in Short-Channel Transistors With High- $k$/Metal Gate Stacks

Amat, E., Kauerauf, T., Degraeve, R., De Keersgieter, A., Rodriguez, R., Nafria, M., Aymerich, X., Groeseneken, G.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 287 KB

english, 2009

A Tire Production Scheduling System for Bridgestone/Firestone Off-The-Road

Zeger Degraeve and Linus Schrage

Журнал:

Operations Research

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 310 KB

english, 1997

The Use of Total Cost of Ownership for Strategic Procurement: A Company-Wide Management Information System

Z. Degraeve, F. Roodhooft and B. van Doveren

Журнал:

Journal of the Operational Research Society

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.54 MB

english, 2005

[IEEE 2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - singapore (2008.07.7-2008.07.11)] 2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - Review of reliability issues in high-k/metal gate stacks

Degraeve, R., Aoulaiche, M., Kaczer, B., Roussel, Ph., Kauerauf, T., Sahhaf, S., Groeseneken, G.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 360 KB

english, 2008

Assessment of the mode of action of polyhexamethylene biguanide against Listeria innocua by Fourier transformed infrared spectroscopy and fluorescence anisotropy analysis

Chadeau, Elise, Dumas, Emilie, Adt, Isabelle, Degraeve, Pascal, Noël, Claude, Girodet, Christophe, Oulahal, Nadia

Журнал:

Canadian Journal of Microbiology

Рік:

2012

Файл:

PDF, 504 KB

2012

Gate Voltage Influence on the Channel Hot-Carrier Degradation of High-$k$ -Based Devices

Amat, Esteve, Kauerauf, Thomas, Degraeve, Robin, Rodriguez, Rosana, Nafria, Montserrat, Aymerich, Xavier, Groeseneken, Guido

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 363 KB

english, 2011

A green method for polybutylene succinate recycling: Depolymerization catalyzed by lipase B from Candida antarctica during reactive extrusion

Jbilou, Fouzia, Dole, Patrice, Degraeve, Pascal, Ladavière, Catherine, Joly, Catherine

Журнал:

European Polymer Journal

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.01 MB

english, 2015

A Mixed Integer Programming Model for Solving a Layout Problem in the Fashion Industry

Degraeve, Zeger, Vandebroek, Martina

Журнал:

Management Science

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 164 KB

english, 1998

[IEEE 2015 IEEE International Memory Workshop (IMW) - Monterey, CA, USA (2015.5.17-2015.5.20)] 2015 IEEE International Memory Workshop (IMW) - Fast and Stable Sub-10uA Pulse Operation in W/SiO2/Ta/Cu 90nm 1T1R CBRAM Devices

Belmonte, Attilio, Fantini, Andrea, Degraeve, Robin, Celano, Umberto, Vandervorst, Wilfried, Redolfi, Augusto, Houssa, Michel, Jurczak, Malgorzata, Goux, Ludovic

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.12 MB

english, 2015

[IEEE 2015 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo) - Edinburgh, United Kingdom (2015.11.10-2015.11.13)] 2015 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo) - Improving the shielding effectiveness of a board-level shield by bonding it with the waveguide-below-cutoff principle

Degraeve, Andy, Pissoort, Davy, Armstrong, Keith

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.43 MB

english, 2015

Optimal Integer Solutions to Industrial Cutting Stock Problems

Degraeve, Zeger, Schrage, Linus

Журнал:

INFORMS Journal on Computing

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 180 KB

english, 1999

[IEEE 2016 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE - Wroclaw, Poland (2016.9.5-2016.9.9)] 2016 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE - Development of an EMC demonstration unit

Degraeve, Andy, Claeys, Tim, Vanhee, Filip, Peuteman, Joan, Pissoort, Davy, Armstrong, Keith

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 585 KB

english, 2016

Plant antimicrobial polyphenols as potential natural food preservatives

Chibane, Lynda Bouarab, Degraeve, Pascal, Ferhout, Hicham, Bouajila, Jalloul, Oulahal, Nadia

Журнал:

Journal of the Science of Food and Agriculture

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 637 KB

english, 2018

Effect of shear stress extrusion intensity on plasticized corn flour structure: Proteins role and distribution

Fouzia Jbilou, Farouk Ayadi, Sophie Galland, Catherine Joly, Patrice Dole, Laurent Belard, Pascal Degraeve

Журнал:

Journal of Applied Polymer Science

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 482 KB

english, 2012

A new statistical model for fitting bimodal oxide breakdown distributions at different field conditions

R. Degraeve, Ph. Roussel, J.L. Ogier, G. Groeseneken, H.E. Maes

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 284 KB

english, 1996

A new analytic model for the description of the intrinsic oxide breakdown statistics of ultra-thin oxides

R. Degraeve, P.H. Roussel, G. Groeseneken, H.E. Maes

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1996

Мова:

english

Файл:

PDF, 287 KB

english, 1996

MABS: Spreadsheet-based decision support for precision marketing

Bert De Reyck, Zeger Degraeve

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 362 KB

english, 2006

Meta-heuristics for dynamic lot sizing: A review and comparison of solution approaches

Raf Jans, Zeger Degraeve

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 299 KB

english, 2007

Gate oxide breakdown in FET devices and circuits: From nanoscale physics to system-level reliability

B. Kaczer, R. Degraeve, Ph. Roussel, G. Groeseneken

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 633 KB

english, 2007

Total cost of ownership purchasing of a service: The case of airline selection at Alcatel Bell

Zeger Degraeve, Eva Labro, Filip Roodhooft

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 336 KB

english, 2004

Charge pumping spectroscopy: HfSiON defect study after substrate hot electron injection

M. Toledano-Luque, L. Pantisano, R. Degraeve, M.B. Zahid, I. Ferain, E. San Andrés, G. Groeseneken, S. De Gendt

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 699 KB

english, 2007

Implementation of plug-and-play ESD protection in 5.5 GHz 90 nm RF CMOS LNAs—Concepts, constraints and solutions

S. Thijs, M.I. Natarajan, D. Linten, W. Jeamsaksiri, T. Daenen, R. Degraeve, Andries Scholten, S. Decoutere, G. Groeseneken

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 424 KB

english, 2006

Electrical properties of high-κ gate dielectrics: Challenges, current issues, and possible solutions

M. Houssa, L. Pantisano, L.-Å. Ragnarsson, R. Degraeve, T. Schram, G. Pourtois, S. De Gendt, G. Groeseneken, M.M. Heyns

Журнал:

Materials Science and Engineering: R: Reports

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.41 MB

english, 2006

Study of nitrogen impact on VFB–EOT roll-off by varying interfacial SiO2 thickness

Moonju Cho, Amal Akheyar, Marc Aoulaiche, Robin Degraeve, Lars-Åke Ragnarsson, Joshua Tseng, Thomas Y. Hoffmann, Guido Groeseneken

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 549 KB

english, 2011

Characterization of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition–Physical Vapor Deposition transparent deposits on textiles to trigger various antimicrobial properties to food industry textiles

Céline Brunon, Elise Chadeau, Nadia Oulahal, Carol Grossiord, Laurent Dubost, François Bessueille, Farida Simon, Pascal Degraeve, Didier Leonard

Журнал:

Thin Solid Films

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 994 KB

english, 2011

A new method for the analysis of high-resolution SILC data

S. Aresu, W. De Ceuninck, G. Knuyt, J. Mertens, J. Manca, L. De Schepper, R. Degraeve, B. Kaczer, M. D’Olieslaeger, J. D’Haen

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2003

Файл:

PDF, 492 KB

2003

Assessment of oxide reliability and hot carrier degradation in CMOS technology

H.E. Maes, G. Groeseneken, R. Degraeve, J. De Blauwe, G. Van den bosch

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.51 MB

english, 1998

Hot carrier degradation and time-dependent dielectric breakdown in oxides

G. Groeseneken, R. Degraeve, T. Nigam, G. Van den bosch, H.E. Maes

Журнал:

Microelectronic Engineering

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.14 MB

english, 1999

HOP: A software tool for production scheduling at Bridgestone/Firestone off-the-road

Zeger Degraeve, Linus Schrage

Журнал:

European Journal of Operational Research

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 725 KB

english, 1998